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Ausstattung

Analytische und Präparative Ausstattung

Bauelementcharaktersierung

  • Strom-Spannungs-Messung unter Standard-Testbedingungen (STC-IV)

  • Externe & interne Quanteneffizienz (EQE & IQE) - wahlweise mit Licht- und Spannungsbias und temperaturabhängig

  • Kapazitäts-Spannungs-Messungen (CV)

  • Temperatur- und beleuchtungsabhängige Strom-Spannungs-Messungen (IVT)

  • Rasternde Aufnehme lichtinduzierter-Ströme (OBIC/LBIC)

  • Messplatz zur Erfassung dynamischer Zustandsänderungen von Chalkogenidsolarzellen - Lightsoaking, Tempern

  • Transientes Abklingen des Photostroms (PICTS) und der offenen Klemmenspannung (TPV)

  • Lock-In Thermografie (D-LIT/I-LIT)

Optische Schichteigenschaften

  • UV-Vis-NIR-Spektroskopie

  • Winkel- und spektral aufgelöste Ellipsometrie (VASE) - 300 nm ... 1700 nm

  • Spektral aufgelöste Photolumineszenz (PL) - variable Anregungsenergie

Strukturelle Schichteigenschaften

  • Röntgendiffraktometrie (XRD) (auch temperaturabhängig, Euler-Wiege)

  • Ramanspektroskopie - unterschiedliche Anregungsenergien, winkel- und ortsauflösende sowie und polarisationsempfindliche Detektion

  • Rastersonden- (AFM) und UHV-Kelvin-Sondenmikroskopie (KPFM) - KPFM wird aktuell nicht betrieben

Elektronische Schichteigenschaften

  • Thermische Admittanzspektroskopie (TAS)

  • Transiente Störstellenspektroskopie (DLTS)

  • Zeit- und ortsaufgelöste Photolumineszenz (TR-PL, µ-PL)

  • Temperaturabhängige Leitfähigkeit (Photoleitfähigkeit) (TC, TPC)

  • Tieftemperatur-Photolumineszenz (T>5 K) mit variabler Anregungswellenlänge (T-PL)

Elektronenmikroskopie

  • Rasterelektronenmikroskop mit fokussierender Ionenquelle und energiedisperiver Röntgenanalyse (FIB-SEM, EDX)

  • Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM)

  • Elektronenstrahlinduzierte Strommessungen (EBIC an Schichten und Querschnitten)

CHEMISCHE ANALYSE

  • Optische Glühemissionsspektroskopie (GDOES)

  • Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenz (WD-XRF)

  • EDX-Analyse an elektronentransparenten Lamellen (STEM-EDX)

Materialentwicklung

  •  Cluster-Beschichtungsanlage zur Herstellung von Chalkogenid-Dünnschichtsolarzellen (Von Ardenne GmbH)

  • RTP-Ofen zur klassischen und plasmagestützten Selenisierung metallischer Schichtstapel (Von Ardenne GmbH)

  • Röhrenofen zur Selenisierung und Nachschwefelung

  • Nasschemische Badabscheidung (CBD)

 

Webmhhoo8asteriv (stephan.block@uolkf.def6) (Stand: 07.11.2019)