PD Dr. Izabella Brand
Geräteverantwortliche AFM

+49 (0) 441 798 3973

+49 (0) 441 798 3979

Prof. Dr. Gunther Wittstock
Gruppenleiter

+49 (0) 441 798 3970

+49 (0) 441 798 3979

Postanschrift

Universität Oldenburg
Fakultät V / Institut für Chemie
AG Wittstock
D-26111 Oldenburg
Germany

Wie Sie uns finden

AFM-Labor

AFM-Labor

Das Institut für Chemie unterhält in der Physikalischen Chemie ein Rasterkraft-Mikroskop (SFM, scanning force microscope) oder auch AFM (Atomkraftmikroskop).

Zugang

Das Rasterkraftmikroskop steht für Messungen auf Anfrage und entsprechend der Nutzerordnung für alle Arbeitsgruppen der Universität zur Verfügung. Bei Interesse kontaktieren Sie bitte:
PD Dr. Izabella Brand, Tel.: 0441-7983973, izabella.brand{at}uni-oldenburg.de

Details zum Gerät

Controller: Nanoscope IIIA (Veeco), Quadrex Extension Box
Messköpfe: Dimension 3100, Enviroscope, Bioscope (alle Veeco)
Erweiterungen: Pulsed force mode (Witec), Letifähigkeitserweiterung (Veeco)
Spezialanwendungen: Arbeit in Lösung, Arbeit in kontrollierten Gasatmosphären, große Proben

Methode

Bei der Rasterkraftmikroskopie (atomic force microscopy, AFM oder scanning force microscopy, SFM) bewegt sich eine möglichst kleine Messspitze über die zu untersuchende Probe. Die Spitze befindet sich an einer weichen Blattfeder, dem so genannten Cantilever. Diese Blatfeder verbiegt sich, wenn Kräfte zwischen der Probe und der Messpitze wirken. Die Verbiegungs des Federbalkens wird über einen Lichtzeiger erfasst und in eine Falschfarbenabbildung übersetzt. Es können sehr unterschiedliche Kräfte zur Bildentstehung genutzt werden

Details zu den Messmodi (Link)

(Stand: 24.11.2022)