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Rastersondenmikroskopien

Rastersondenmikroskopien können als Abkömmlinge des Rastertunnelmikroskops angesehen werde. Inzwischen ist eine kaum noch zu überblickende Vielfalt verwandter Techniken etabliert worden, die für bestimmte Proben oder Fragestellungen eingesetzt werden. In den praktischen Anwendungen dominiert dabei die Rasterkraftmikroskopie oder Atomkraft-Mikroskopie in der Halbleiterindustrie, der Entwicklung von Polymeren, von Spezialpapieren, Lacken und Klebstoffen, Keramiken und magnetischen Speichermedien. Wir interessieren uns besonders für die methodischen Varianten, die an Fest-flüssig-Grenzflächen eingesetzt werden können und die direkt heterogene Reaktionsgeschwindigkeiten kartieren können.

STMRastertunnel-Mikroskopie - scanning tunnelling microscopy
quantenmechanischer Tunneleffekt
SFM
(AFM)
Rasterkraft-Mikroskopie oder Atomkraft-Mikroskopie - scanning (atomic) force microscopy
Krafwirkung zwischen Atomen der Spitze und der Probe
SECMelektrochemische Rastermikroskopie - scanning electrochemical microscopy
Diffusion von redoxativen Teilchen zwischen Probe und Sonde
SNOMoptische Rasternahfeld-Mikroskopie - scanning near-field optical microscopy
Wechselwirkung mit Licht aus einer mikroskopischen Blende (optische Faser) in dichtem Abstand über der Probe
PC2-Webmaster (Stand: 10.09.2018)