Probenpräparation für die Rasterelektronenmikroskopie
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Probenpräparation für die Rasterelektronenmikroskopie
In der Elektronen- und Lichtmikroskopie Serviceeinheit stehen eine BAL-TEC CDP 030 Kritisch-Punkt-Trocknungsanlage und eine BAL-TEC SCD 005 Beschichtungsanlage zu Verfügung.
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