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Hitachi S-3200N Rasterelektronenmikroskop

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Sekundärelektronendetektor

Rückstreuelektronendetektor (Robinson-Detektor)

EDX-System: Oxford INCA System mit PentaFET Precision INCA X-Act (10 mm2 SDD Detektor)

Tieftemperatur-System: Oxford CTS 1500C Kryokammer-/Transfersystem

Nieder-Vakuum (1-270 Pa)

Fotographie und Dokumentation: digitalisiert (TIFF, JPG)

 

Vorteile der Tieftemperatur- und Nieder-Vakuum- Rasterelektronenmikroskopie. Tieftemperatur- und Nieder-Vakuum- Rasterelektronenmikroskopie sind schnelle und nahezu artefaktfreie Präparationstechniken, mit denen Proben untersucht werden können, die nicht so ohne weiteres durch konventionelle Präparationsmethoden präpariert und dokumentiert werden können (z.B. feuchte oder ölhaltige Proben, Wachse, zerbrechliche Proben, instabile Sedimente, etc.). 

Der Robsinson- (Rückstreuelektronen-)detektor erlaubt die Darstellung von Materialkontrasten, der aus der Materialzusammensetzung resultiert (Z-Kontrast): chemische Elemente mit höherer Ordnungszahlen erscheinen heller, während solche mit niedrigeren Ordnungszahlen dunkler erscheinen.

Webmxaasta7i6ergl (vita.gi1esolovyen6va@uol.de) (Stand: 21.08.2020)