Rasterelektronenmikroskopie
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Rasterelektronenmikroskopie
JEOL IT800 Rasterelektronenmikroskop
Hochauflösender Sekundärelektronendetektor-Detektor
In-Lens-Detektionssystem (UHD) für SE
STEM-Detektor
Szintillator-BSE-Detektor
Niedervakuum-BSE- und SE-Detektoren
EDX-System: 100mm² JEOL EDS-Detektor
Tieftemperatur-System: Coolstage ULTRA -50°C bis +50°C
Nieder-Vakuum (1 - 300 Pa)
Plasmareiniger an der Ladeschleuse.
Fotografie und Dokumentation: digitalisiert (TIFF-, JPG-formatiert)
Vorteile der Niedertemperatur- und Niedervakuum-Rasterelektronenmikroskopie
Das neue SEM mit Strahlverzögerungsoption ermöglicht Aufnahmen mit Spannungen bis zu 100 V.
Vorteile der Tieftemperatur- und Nieder-Vakuum- Rasterelektronenmikroskopie. Tieftemperatur- und Nieder-Vakuum- Rasterelektronenmikroskopie sind schnelle und nahezu artefaktfreie Präparationstechniken, mit denen Proben untersucht werden können, die nicht so ohne weiteres durch konventionelle Präparationsmethoden präpariert und dokumentiert werden können (z.B. feuchte oder ölhaltige Proben, Wachse, zerbrechliche Proben, instabile Sedimente, etc.).
Der Rückstreuelektronen Detektor erlaubt die Darstellung von Materialkontrasten, der aus der Materialzusammensetzung resultiert (Z-Kontrast): chemische Elemente mit höherer Ordnungszahlen erscheinen heller, während solche mit niedrigeren Ordnungszahlen dunkler erscheinen.