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W4 0-122

Bedienungsanleitung

Jeol JEM2100F TEM

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Das Jeol JEM2100F ist ein hochauflösendes Raster-Transmissionselektronenmikroskop (S-TEM) mit einem Schottky Emitter. Es ist für materialwissenschaftliche Untersuchungen bestens geeignet und kann zwischen 80 und 200 kV Beschleunigungsspannung im TEM- und im S-TEM Modus betrieben werden.

 Im TEM Modus kann bei kristallinen Proben aufgrund des hochauflösenden (HR) Objektiv-Polschuhs atomare Auflösung erzielt werden. Im  S-TEM Modus können Bilder mit einem Hellfeld-(BF: Bright field) und einem HAADF-Dunkelfeld-(HAADF: High Angle Annular Dark Field)Detektor aufgenommen werden. Mit dem Dunkelfeld-Detektor  eine Darstellung des Z-Kontrasts möglich. Proben können ±30° mit dem einfachen Probenhalter und ±80° mit dem High-Tilt-Probenhalter gekippt werden. Mit dem Mikroskop sind chemische Analysen durch eine integrierte Oxford EDX-Anlage und Tomographie-Studien mit dem "High-Tilt-Probenhalter" möglich. Die Bilddokumentation erfolgt im TEM Modus durch zwei CCD Kameras.

Spezifikationen

 Jeol 2100F S-TEM

Beschleunigungsspannung

80 kV - 200 kV

Vergrößerung

50x – 1,500,000x

Vergrößerungsstufen

30 Stufen im Mag Modus (2,000x - 1,500,000x)

20 Stufen im Low Mag Modus (50x - 6,000x)

21 Stufen im SA Mag Modus (8,000x - 800,000x)

Auflösungsvermögen

0.14 nm Gitterabstand

0.23 nm Punktabstand

Kameralängen

15 Stufen im SA DIFF Modus (80-2,000mm)

114 Stufen im HD DIFF Modus (4-80mm)

1 Stufe im HR DIFF Modus (333mm)

Polschuh (Objektivlinse) Hochauflösender Polschuh
Fokuslänge

2.3mm

Koeffizient der sphärischen Aberration

1.0mm

Koeffizient der chromatischen Aberration

1.4mm

Minimale Fokussierschritt

1.5nm

Strahlstabilität

1 ppm/min.

Probenschleuse/Probenbühne Piezo-gesteuertes Goniometer
Proben-Kippwinkel ±35° (X-Achse); ±30° (Y-Achse)
Probenverfahrlängen

2.0mm (X); 2.0mm (Y); 0.4mm (Z) // (±0.2mm)

Zusätzliche Ausstattung  

EDX

Oxford INCA Energy TEM250 EDX-System mit dem SDD-Detector X-Max80 (80 mm2 Detektorfläche, Auflösung 129 eV (Mn K); detektiert Elemente von Be bis Pu)
Tomographie  
High tilt Probenhalter; Jeol Tomographie Software "Temography" für  Bildeinzug, 3D-Rekonstruktion, und 3D-Darstellung
 
Kameras  
 
 
  • seitlich oberhalb des Beobachtungsschirms angebracht, pneumatisch in den Strahlengang einfahrbar: Gatan Orius SC200D (2k x 2k; 15mm x 15mm, Linsenoptisch gekoppelt; Bild-Wiedergaberate: max. 30 pro Sekunde)
  • seitlich unterhalb des Beobachtungsschirms angebracht, pneumatisch in den Strahlengang einfahrbar: Gatan Orius SC600 (2.7k x 2.7k; 24mm x 24mm, Glasfaseroptisch gekoppelt; Bild-Wiedergaberate: max. 1 pro Sekunde)
 
Bilddokumentation Gatan Digital Micrograph Software

 

Webmnwaster (vitapn5.sojvlovfei9yeva@uol.demamf) (Stand: 01.09.2020)