Jeol JEM2100F TEM
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Jeol JEM2100F TEM
Das Jeol JEM2100F ist ein hochauflösendes Raster-Transmissionselektronenmikroskop (S-TEM) mit einem Schottky Emitter. Es ist für materialwissenschaftliche Untersuchungen bestens geeignet und kann zwischen 80 und 200 kV Beschleunigungsspannung im TEM- und im S-TEM Modus betrieben werden.
Im TEM Modus kann bei kristallinen Proben aufgrund des hochauflösenden (HR) Objektiv-Polschuhs atomare Auflösung erzielt werden. Im S-TEM Modus können Bilder mit einem Hellfeld-(BF: Bright field) und einem HAADF-Dunkelfeld-(HAADF: High Angle Annular Dark Field)Detektor aufgenommen werden. Mit dem Dunkelfeld-Detektor eine Darstellung des Z-Kontrasts möglich. Proben können ±30° mit dem einfachen Probenhalter und ±80° mit dem High-Tilt-Probenhalter gekippt werden. Mit dem Mikroskop sind chemische Analysen durch eine integrierte Oxford EDX-Anlage und Tomographie-Studien mit dem "High-Tilt-Probenhalter" möglich. Die Bilddokumentation erfolgt im TEM Modus durch zwei CCD Kameras.
Spezifikationen Jeol 2100F S-TEM | |
| Beschleunigungsspannung | 80 kV - 200 kV |
| Vergrößerung | 50x – 1,500,000x |
| Vergrößerungsstufen | 30 Stufen im Mag Modus (2,000x - 1,500,000x) 20 Stufen im Low Mag Modus (50x - 6,000x) 21 Stufen im SA Mag Modus (8,000x - 800,000x) |
| Auflösungsvermögen | 0.14 nm Gitterabstand 0.23 nm Punktabstand |
| Kameralängen | 15 Stufen im SA DIFF Modus (80-2,000mm) 114 Stufen im HD DIFF Modus (4-80mm) 1 Stufe im HR DIFF Modus (333mm) |
| Polschuh (Objektivlinse) | Hochauflösender Polschuh |
| Fokuslänge | 2.3mm |
| Koeffizient der sphärischen Aberration | 1.0mm |
| Koeffizient der chromatischen Aberration | 1.4mm |
| Minimale Fokussierschritt | 1.5nm |
| Strahlstabilität | 1 ppm/min. |
| Probenschleuse/Probenbühne | Piezo-gesteuertes Goniometer |
| Proben-Kippwinkel | ±35° (X-Achse); ±30° (Y-Achse) |
| Probenverfahrlängen | 2.0mm (X); 2.0mm (Y); 0.4mm (Z) // (±0.2mm) |
| Zusätzliche Ausstattung | |
| EDX | Oxford AZTEC EDX-System mit dem SDD-Detector X-Max80 (80 mm2 Detektorfläche, Auflösung 129 eV (Mn K); detektiert Elemente von Be bis Pu) |
| Tomographie | High tilt Probenhalter; Jeol Tomographie Software "Temography" für Bildeinzug, 3D-Rekonstruktion, und 3D-Darstellung |
| Kameras |
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| Bilddokumentation | Gatan Digital Micrograph Software |