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Mikroskopie
Nanoskalige Charakterisierung der Materialen
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Wir entwickeln und wenden ständig fortschrittliche nanoskalige Techniken zur Charakterisierung von Materialien und Phänomenen an Grenzflächen an. Unsere Expertise liegt hauptsächlich in Scanning-Probe-Verfahren, einschließlich SECM, SICM und SECCM zur lokalen Analyse von Struktur-Funktions-Beziehungen. Wir interessieren uns für räumliche Verteilungen von Reaktivität, Temperatur, Oberflächenladung und Spezieskonzentrationen.
In diesem Bereich arbeiten wir mit der Wittstock AG zusammen, zu der die Momotenko Group derzeit gehört.
Abbildung 1 veranschaulicht ein Temperaturfeld über einem Cluster plasmonischer Partikel, das von einem Laser erhitzt wird (weitere Details finden Sie in der Originalpublikation: pubs.acs.org/doi/10.1021/acsnano.0c02798)