Das Rasterkraftmikroskop steht für Messungen auf Anfrage und entsprechend der Nutzerordnung für alle Arbeitsgruppen der Universität zur Verfügung. Bei Interesse kontaktieren Sie bitte:
PD Dr. Izabella Brand, Tel.: 0441-7983973, izabella.brand{at}uni-oldenburg.de

Controller: Nanoscope IIIA (Veeco), Quadrex Extension Box
Messköpfe: Dimension 3100, Enviroscope, Bioscope (alle Veeco)
Erweiterungen: Pulsed force mode (Witec), Letifähigkeitserweiterung (Veeco)
Spezialanwendungen: Arbeit in Lösung, Arbeit in kontrollierten Gasatmosphären, große Proben

Bei der Rasterkraftmikroskopie (atomic force microscopy, AFM oder scanning force microscopy, SFM) bewegt sich eine möglichst kleine Messspitze über die zu untersuchende Probe. Die Spitze befindet sich an einer weichen Blattfeder, dem so genannten Cantilever. Diese Blattfeder verbiegt sich, wenn Kräfte zwischen der Probe und der Messpitze wirken. Die Verbiegung des Federbalkens wird über einen Lichtzeiger erfasst und in eine Falschfarbenabbildung übersetzt. Es können sehr unterschiedliche Kräfte zur Bildentstehung genutzt werden

Details zu den Messmodi (Link)