Das XPS-Spektrometer steht für Messungen auf Anfrage und entsprechend der Nutzungsordnung für alle Arbeitsgruppen der Universität und auch für externe Nutzer zur Verfügung. Bei Interesse kontaktieren Sie bitte:

PD Dr. Carsten Dosche, Tel.: 0441-7983975

Email: carsten.dosche{at}uni-oldenburg.de

System: ESCALAB 250 Xi (Thermo Fisher)

Röntgenquelle: wahlweise Al (monochromatisiert) oder Mg/Al

Analysator/Detektortyp: hemisphärisch/Channeltron

Minimale Peakbreite bei halber Höhe (FWHM): 0.58 eV (Ag 3d)

Minimale Messpunktgröße: 20 µm

Probentemperatur: regelbar 100-1000 K

Weitere Optionen:

Restgasanalyse mit Quadrupol-MS

UPS-Quelle für He I und He II

Ar-Sputter-Quelle für Ar⁺ und Ar-Cluster-Ionen

XPS-Imaging (Auflösung 2 µm)

Elektronen-Quelle für REELS

Automatische Ladungskompensation

an Vakuumsystem angeschlossene Glovebox, je eine für organische und wässrige Lösungen

Bei XPS wird die Probe mit Röntgenlicht bestrahlt, was zur Emission von Elektronen führt. Die  herausgelösten Photoelektronen werden nach ihrer kinetischen Energie analysiert und liefern detaillierte qualitative und quantitative Informationen über die in der Probe vertretenen Elemente und bei hochauflösenden Spektren auch über den chemischen Zustand dieser Elemente.

Da die emittierten (herausgelösten) Elektronen sich in festen Proben nur wenige Nanometer bewegen können, ohne durch Stöße Energie zu verlieren, liefern sie Informationen über die chemische Zusammensetzung einer sehr oberflächennahen Schicht.

Das Gerät ermöglich sowohl schnelle Messungen mit exzellentem Signal-Rausch-Verhältnis als auch Messungen mit höchster Auflösung, die erreichbare Halbwertsbreite liegt für die Silber-3d-Linie bei unter 0.6 eV. Das hohe Signal-Rausch-Verhältnis ist wesentlich für Messungen mit empfindlichen Proben um die notwendige Röntgendosis klein zu halten. Neben XPS sind noch weitere Messmodi wie Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie (UPS), ion-scattering spectroscopy (ISS) und reflection electron energy loss spectroscopy (REELS) möglich.