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Wissenschaftliche Leitung

Prof. Dr. Sascha Schäfer

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PD Dr. Erhard Rhiel

Dr. Vita Solovyeva

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Ultraschnelles TEM Jeol JEM200F

Ultraschnelles Transmissionselektronenmikroskop auf der Basis eines Jeol JEM-F200

Ein Ultraschnelles Transmissionselektronenmikroskop auf der Basis eines Jeol JEM-F200 wird aktuell in der Arbeitsgruppe von Prof. Dr. Schäfer installiert.

Parameter:

Kalter Feldemitter 
Beschleunigungsspannung20 kV to 200kV
Vergrößerungbereich im TEM Modus 20 to 2x106
Vergrößerungsbereich im S-TEM Modus       200 to 150x106
S-TEM Einheiteinschließlich einem HAADF-Detektor
Maximale Probenkippung +/-80°
Kondensor SystemQuad Lens
Kamera

TVIPS, TemCam-XF416 cooled CMOS, 63.5mm x 63.5mm

4096 x 4096 pixels

Kamera Ausleserate25fps to 200fps
Zusätzliche AusstattungElektronen-Energie-Verlust-Spektroskopie

 

(Stand: 09.06.2021)