Ultraschnelles TEM Jeol JEM200F
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Ultraschnelles TEM Jeol JEM200F
Ultraschnelles Transmissionselektronenmikroskop auf der Basis eines Jeol JEM-F200
Ein Ultraschnelles Transmissionselektronenmikroskop auf der Basis eines Jeol JEM-F200 wird aktuell in der Arbeitsgruppe von Prof. Dr. Schäfer installiert.
Parameter:
Kalter Feldemitter | |
Beschleunigungsspannung | 20 kV to 200kV |
Vergrößerungbereich im TEM Modus | 20 to 2x106 |
Vergrößerungsbereich im S-TEM Modus | 200 to 150x106 |
S-TEM Einheit | einschließlich einem HAADF-Detektor |
Maximale Probenkippung | +/-80° |
Kondensor System | Quad Lens |
Kamera | TVIPS, TemCam-XF416 cooled CMOS, 63.5mm x 63.5mm 4096 x 4096 pixels |
Kamera Ausleserate | 25fps to 200fps |
Zusätzliche Ausstattung | Elektronen-Energie-Verlust-Spektroskopie |