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Ultraschnelles TEM Jeol JEM200F

Ultraschnelles Transmissionselektronenmikroskop auf der Basis eines Jeol JEM-F200

Ein Ultraschnelles Transmissionselektronenmikroskop auf der Basis eines Jeol JEM-F200 wird aktuell in der Arbeitsgruppe von Prof. Dr. Schäfer installiert.

Parameter:

Kalter Feldemitter  
Beschleunigungsspannung 20 kV to 200kV
Vergrößerungbereich im TEM Modus  20 to 2x106
Vergrößerungsbereich im S-TEM Modus        200 to 150x106
S-TEM Einheit einschließlich einem HAADF-Detektor
Maximale Probenkippung  +/-80°
Kondensor System Quad Lens
Kamera

TVIPS, TemCam-XF416 cooled CMOS, 63.5mm x 63.5mm

4096 x 4096 pixels

Kamera Ausleserate 25fps to 200fps
Zusätzliche Ausstattung Elektronen-Energie-Verlust-Spektroskopie
(Stand: 19.01.2024)  | 
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