Thorlabs Veneto

Vier Laserlinien zur Anregung (405, 488, 561 und 640 nm)

Multiband-Notchfilter erlaubt die Anpassung an verschiedene Fluoreszenzfarbstoffe ohne neue Filtersätze.

Die Wellenlänge 640 nm steht für Reflexionsmessungen zur Verfügung.

Prinzip und Anwendung

Im konfokalen Laser-Rastermikroskop (confocal laser scanning micorscope, CLSM) tastet ein Laser das Objekt punktweise ab. Eine kleine Blende im Detektionsstrahlengang blockiert einen Großteil des Lichts, das an der Probe oberhalb und unterhalb der Fokusebene entsteht. Da diese nicht fokussierte Licht den Detektor nicht erreicht, wird die Auflösung deutlich verbessert. Zudem kann durch eine vertikale Verschiebung der Fokusebene, eine schichtweise Abtastung der Probe erfolgen. Mit diesen Intensitätsdaten können hochauflösende Abbildungen und dreidimensionale Oberflächenrekonstruktionen ausgeführt werden. Die Besonderheit der konfokalen Mikroskopie ist es, scharfe Abbildungen von dicken Proben in verschiedenen Tiefen zu erzeugen. Ein Beispiel ist die Darstellung von Defekten an einer Mikroelektroden in Abbildung 2.

Technische Details

Das Konfokal-Prinzip ist in Abbildung 3 schematisch dargestellt: Zur punktweisen Abbildung der Probe wird ein kollimierter Laserstrahl (grün) von einem wellenlängenselektiven Strahlteiler (Dichroit) reflektiert und durch die Objektivlinse des Mikroskops auf die Probe fokussiert. In unserem Gerät kommt ein Multiband-Notchfilter zum Einsatz. Das zurückgestrahlte, längerwelligere Fluoreszenzlicht (rot) wird von der Objektivlinse gebündelt und auf eine Lochblende abgebildet. Auf diese Weise gelangt nur Licht aus der Fokusebene in den Detektor, Licht von außerhalb dieser Ebene wird blockiert und kann daher nicht zur Unschärfe der Abbildungen beitragen. Zwischen Strahlteiler und Objektivlinse befindet sich eine xy-Ablenkeinheit um die Probe mit dem Laserfokus abtasten zu können. Die Verschiebung in z-Richtung erfolgt durch einen motorisierten Tisch.

Aus diesem Grund ermöglicht das CLSM nicht nur in der x- und y-Richtung eine sehr hohe Auflösung, sondern es liefert auch eine vergleichbare Auflösung zwischen den einzelnen Schichten (z). Im Computer können diese Schnittbilder zu einer räumlichen Darstellung des Objekts zusammengesetzt werden (Abbildung 2).

Neben Fluoreszenzemission kann auch von der Probe reflektiertes oder gestreutes Licht detektiert werden, sofern der Dichroit diesen spektralen Bereich nicht vollständig blockiert. Dies ist bei unserem Gerät bei 640 nm möglich.