Mikrowellen Nanoskopie
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Mikrowellen Nanoskopie
Die Forschung und Entwicklung in der Mikro- und Nanoelektronik benötigt Werkzeuge, die es ermöglichen, Nanomaterialien zu vermessen, manipulieren und transportieren (Stichwort: Beyond CMOS). Ein wesentlicher Teil auf dem Weg dahin, ist das Abbilden und Charakterisieren der elektrischen und dielektrischen Eigenschaften dieser neuen Materialien im Höchstfrequenzbereich des elektromagnetischen Spektrums. Mit unserem nanorobotischen Ansatz arbeiten wir an neuartigen Meßtechniken und -instrumenten, wie beispielsweise unser in-situ Rastermikrowellenmikroskop.
Abb.: Rastersondenmikroskopietechniken im Frequenzspektrum
In-situ Nahfeldmesstechnik
Das selbstentwickelte laserinterferometer-basierte Rastermikrowellen-Mikroskop ist in einem Rasterelektronenmikroskop integriert (SEM2). Diese Technologie ermöglicht in-situ Messungen an nanoelektronischen und heterogenen nanoskaligen Objekten. Eine exakte Positionierung einer Feldprobe (Nahfeld oder auch in Kontakt), welche die sog. Region-of-Interest abrastert, ist notwendig, um hohe Wiederholgenauigkeiten der Messungen im Höchstfrequenzbereich zu erreichen. Desweiteren befassen wir uns mit entsprechenden Automations- und Kalibriermethoden. Infos: Olaf C. Hänßler.
SEM2 Video
Steuerung und Informationsverarbeitung
Zur Aufnahme, Vermessung und Verarbeitung der anfallenden Daten werden leistungsstarke Hardware und Software Lösungen benötigt. Durch eine hohe Anzahl an Sensoren sowie das Bedürfnis verschiedenste Messgeräte miteinander zu kombinieren, ist die Synchronisation verschiedenster elektronischer Komponenten wichtig. Hierfür entwicklen wir Lösungen.
Häufig sind die zeitliche Anforderung an die Hardware so groß, dass eingebettete Systeme auf Basis von Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) mit leistungsstarken Co-Prozessoren zum Einsatz kommen. Diese können in einer hohen Geschwindigkeit die anfallenden Daten verarbeiten. Dies wird dadurch erreicht, dass Teile dieser Verarbeitungskette als Hardwaremodule modelliert werden. Diese Systeme arbeiten dann direkt auf den Datenstrom der Sensoren oder Messgeräte und können Daten parallel verarbeiten.
Des Weiteren werden häufig verschiedenste Schnittstellen benötigt, um die Kommunikation der Sensoren und Messgeräte zu realisieren. Auch hierfür werden eigenständige Lösungen entwickelt, wie im Bild zu sehen.
Ein weiteres Feld der Mikrowellen-Nanoskopie ist die Verarbeitung und Bereitstellung der gewonnenen Daten als Messbilder, um Objekte und deren Eigenschaften in Größenordnungen von Mikro- und Nanometern darzustellen. Hier ist neben der Darstellung die weitere Analyse und Verarbeitung der Aufnahmen ein Thema.
Neben der Aufnahme der Daten, spielen die Aktuation des Rastermikrowellenmikroskops auf Basis verschiedenster Scan-Verfahren eine Rolle.