Das Projekt verfolgt zwei Hauptziele: die direkte Untersuchung von van der Waals und elektrostatischen Wechselwirkungen ohne den Einfluss von Kapillarkräften und ohne den Einfluss eines wässrigen Mediums sowie die Untersuchung des Einflusses von elektronenstrahlinduzierten Effekten auf Adhäsion und Haftung in einem Rasterelektronenmikroskop. Weiterhin sollen die gängigen Adhäsionstheorien und Approximationen in einem Kraftbereich validiert werden, der normalerweise durch Kapillarkräfte und den Kontaktsprung des Cantilevers überlagert wird. Um diese Ziele zu erreichen, wird ein Kraftspektroskopieaufbau, der die aktuellen Auflösungsgrenzen unterschreitet, mit einem Rasterelektronenmikroskop/fokussierten Ionenstrahlinstrument kombiniert. Auf diese Weise werden systematische Untersuchungen der Adhäsionskräfte in der Vakuumkammer des Rasterelektronenmikroskop realisierbar und ermöglichen ein tieferes Verständnis der Kapillarkräfte und Adhäsionswechselwirkungen im Allgemeinen sowie die Entwicklung neuer Handhabungsstrategien auf der Mikro- und Nanoskala.